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2024歡迎訪問##鶴壁XTRM-4220PG溫度遠傳監(jiān)測儀一覽表
湖南盈能電力科技有限公司，專業(yè)儀器儀表及自動化控制設備等。電力電子元器件、高低壓電器、電力金具、電線電纜技術研發(fā)；防雷裝置檢測；儀器儀表，研發(fā)；消防設備及器材、通訊終端設備；通用儀器儀表、電力電子元器件、高低壓電器、電力金具、建筑材料、水暖器材、壓力管道及配件、工業(yè)自動化設備銷；自營和各類商品及技術的進出口。
的產品、的服務、的信譽，承蒙廣大客戶多年來對我公司的關注、支持和參與，才鑄就了湖南盈能電力科技有限公司在電力、石油、化工、鐵道、冶金、公用事業(yè)等諸多領域取得的輝煌業(yè)績，希望在今后一如既往地得到貴單位的鼎力支持，共同創(chuàng)更加輝煌的明天！
在我們平時的模擬測試過程中，經常會需要信號源輸出一些現(xiàn)場實際情況的非標準波形，如現(xiàn)場波形，編碼誤觸發(fā)波形，安全氣囊碰撞展激勵信號等等。對于此類波形通常都需要用函數(shù)耦合甚至只能現(xiàn)場捕獲復現(xiàn)。而這種要求對于大多數(shù)僅能產生標準波形的函數(shù)信號源來說就顯得力不從心。而對于此類波形要求，采用具有連續(xù)采樣的任意波形就可以輕松搞定。我們就演示利用RIGOL的具有連續(xù)采樣功能的DG1Z任意波形發(fā)生器和DS1Z數(shù)字示波器分三步即可模擬生成任意波。
FLIR工具應用程序可連接熱成像儀與設備，從而使您能夠對現(xiàn)場熱進行流、采取遠程控制、分析存儲的圖像，并迅速通過電子郵件傳送現(xiàn)場發(fā)現(xiàn)。FLIRMeterlink測試與測量工具可直接向相機傳輸可讀數(shù)據(jù)，相機會在您捕獲數(shù)據(jù)時存儲輻射圖像的數(shù)據(jù)，以用于報告中。FLIR工具報告軟件還更多功能，可以將更多測量工具添加到圖像中，生成深入的報告以及更新相機固件等。提高生產力更多內置功能帶來更強大的效能觸摸屏與操作簡單的按鈕靈敏度如同智能手機的 系統(tǒng)與指南針自動嵌入指向方向和地理位置注解加入語音或文字注釋圖像或使用觸摸屏來勾畫。
本系統(tǒng)采用基于Raman后向散射的分布式光纖溫度傳感原理，采用雙通道雙波長比較方法，即分別采集Anti-Stokes光和Stokes光，利用兩者強度的比值解調溫度信號。由于Anti-Stokes光對溫度更靈敏，因此Anti-Stokes光作為信號通道，Stokes光作為比較通道，則兩者之間的強度比為式中，λs，λas分別為Stokes和Anti-Stokes光波長;h為普朗克常數(shù);c為真空中的光速;k是玻耳茲曼常量;△γ為偏移波數(shù)：T為溫度。
GLTE時代的測量由于MIMO的引入而變得更加復雜，3GPP標準委員會采納了兩種測量方式：多探頭法，輻射兩步法，這兩種方案都可以測量UE在衰落信道下的吞吐量指標。MPAC所需的基本設備包括吸波暗室，無線測試，信道模擬器，多組探頭天線及轉盤；RTS測量方案所需的基本設備包括吸波暗室，無線測試，一組探頭天線，衰落信道由UXM內部的通道模擬器實現(xiàn)。
各種毫米波的器件、芯片以及應用都在如火如荼的發(fā)著。相對于微波頻段，毫米波有其自身的特點。首先，毫米波具有更短的工作波長，可以有效減小器件及系統(tǒng)的尺寸;其次，毫米波有著豐富的頻譜資源，可以勝任未來超高速通信的需求。此外，由于波長短，毫米波用在雷達、成像等方面有著更高的分辨率。到目前為止，人們對毫米波已展了大量的研究，各種毫米波系統(tǒng)已得到廣泛的應用。隨著第5代通信、汽車自動駕駛、安檢等民用技術的快速發(fā)展，毫米波將被廣泛應用于人們日常生活的方方面面。
如果示波器沒有足夠大的存儲深度，則再高的采樣率也無法充分發(fā)揮價值。ZDS4Plus標配512Mpts存儲深度，哪怕面對4GSa/s的采樣率，也能存儲長達128ms的波形?！罢嬲饬x”測量如果不能對所有存儲深度的每一個波形都進行測量，存儲深度的價值也就是“波形不失真”這一基本要求而已，卻無法更進一步地去自動挖掘出波形中存在的異常。只有具備“真正意義”參數(shù)測量統(tǒng)計功能，512Mpts的海量數(shù)據(jù)的價值才能被挖掘，否則如果只測其中的一個周期，海量的數(shù)據(jù)有何意義？不同于傳統(tǒng)示波器只測一個周期，或通過抽樣減少數(shù)據(jù)量再測量的模式，ZDS4Plus通過FPGA全硬件并行，基于原始采樣率和512Mpts全存儲深度，對每一幀波形每一周期進行測量統(tǒng)計，可在幾百毫秒內實現(xiàn)對512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測量，測試項目可達51種，并且支持24種參數(shù)同時顯示。
而如果C的容值越小，對電路的影響也就越小。但限于目前的測試系統(tǒng)，C3和串聯(lián)后的電容值是幾個pF的級別，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負載電容量的影響在10%以上， 終會導致測量結果產生幾個ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設計對晶體頻偏的要求是30ppm左右，所以這個影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜分析儀，配合近場探頭測試，因為僅在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。